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  • SMC-225PF恒溫恒濕試驗箱濕球濕布
    SMC-225PF恒溫恒濕試驗箱濕球濕布

    恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)濕球(qiu)濕布 可(ke)程式恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)會出(chu)現濕度顯(xian)示的%情況,一般都(dou)是由于使(shi)(shi)用(yong)者濕球(qiu)紗布放置錯誤所引起的,或(huo)者是紗布不符(fu)合規范,在(zai)此聲(sheng)明:恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)所用(yong)的濕球(qiu)紗布并不是任(ren)何(he)紗布都(dou)能代替使(shi)(shi)用(yong),它有(you)一定(ding)要求。

    更新時間:2021-07-03型號:SMC-225PF瀏覽量:1246
  • 片狀恒溫恒濕試驗箱測試紗布
    片狀恒溫恒濕試驗箱測試紗布

    片狀恒溫(wen)(wen)恒濕(shi)試驗箱測試紗布 可以用(yong)(yong)來(lai)考核和(he)確定電工(gong)(gong)、電子產品或材料(liao)在規定的(de)(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度下(xia),或濕(shi)熱環境條件下(xia)貯存和(he)使用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)適應性(xing)(xing)。設(she)備(bei)采(cai)用(yong)(yong)強(qiang)迫空氣(qi)循(xun)環來(lai)保持工(gong)(gong)作室內溫(wen)(wen)濕(shi)度的(de)(de)(de)(de)均(jun)勻性(xing)(xing)。為限(xian)制輻射影響(xiang),設(she)備(bei)內壁各部分(fen)溫(wen)(wen)度與試驗規定的(de)(de)(de)(de)溫(wen)(wen)度之(zhi)差不大(da)于8%,且試驗樣品不會(hui)受到設(she)備(bei)內加熱與冷(leng)卻元件的(de)(de)(de)(de)直接輻射。

    更新時間:2022-08-19型號:瀏覽量:1063
  • 精度高濕球紗布  恒溫恒濕箱測試紗布
    精度高濕球紗布 恒溫恒濕箱測試紗布

    精度(du)(du)高(gao)濕球(qiu)紗(sha)(sha)布(bu) 恒(heng)(heng)(heng)(heng)溫恒(heng)(heng)(heng)(heng)濕箱(xiang)(xiang)測試(shi)(shi)(shi)紗(sha)(sha)布(bu) 恒(heng)(heng)(heng)(heng)溫恒(heng)(heng)(heng)(heng)濕試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang) 又名(ming)“可(ke)程式恒(heng)(heng)(heng)(heng)溫恒(heng)(heng)(heng)(heng)濕試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang),恒(heng)(heng)(heng)(heng)溫恒(heng)(heng)(heng)(heng)濕箱(xiang)(xiang),與“高(gao)低(di)溫交(jiao)變(bian)濕熱(re)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)(xiang)屬同一系列,是航空、汽車(che)、家電、科(ke)研等領域*的測試(shi)(shi)(shi)設備,用于測試(shi)(shi)(shi)和(he)確定(ding)電工、電子(zi)及(ji)其(qi)他產(chan)品(pin)及(ji)材料進行(xing)高(gao)溫、低(di)溫、交(jiao)變(bian)濕熱(re)度(du)(du)或恒(heng)(heng)(heng)(heng)定(ding)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)的溫度(du)(du)環(huan)境變(bian)化后的參(can)。數及(ji)性能。

    更新時間:2022-05-06型號:瀏覽量:1107
  • 試驗箱濕布 恒溫恒濕箱溫濕度測試箱
    試驗箱濕布 恒溫恒濕箱溫濕度測試箱

    試驗(yan)箱(xiang)濕(shi)(shi)布 恒溫(wen)恒濕(shi)(shi)箱(xiang)溫(wen)濕(shi)(shi)度(du)測試箱(xiang) 環(huan)(huan)境試驗(yan)的(de)目(mu)的(de)是(shi)通過對(dui)試驗(yan)中(zhong)暴露的(de)問(wen)題進行原(yuan)因分析,找出產品(pin)的(de)薄弱環(huan)(huan)節,加以改進,使(shi)產品(pin)的(de)環(huan)(huan)境適應(ying)性滿足要求。材料(liao)進行高溫(wen)、低溫(wen)、交變濕(shi)(shi)熱度(du)或恒定試驗(yan)的(de)溫(wen)度(du)環(huan)(huan)境變化后要素(su)評估 1.溫(wen)度(du):-20℃~150℃(可任意設定) 2.濕(shi)(shi)度(du):20%~98%RH (可任意設定)

    更新時間:2023-09-13型號:瀏覽量:749
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