高低溫試驗(yan)箱在電子領域的試驗(yan)

     產(chan)品具(ju)有(you)模擬大氣環境(jing)中溫(wen)度變化規律。主要針對(dui)于電工、電子產(chan)品，以及其元器件及其它材料在高溫(wen)，低溫(wen)綜(zong)合環境(jing)下運輸，使(shi)用時的適應性試驗。用于產(chan)品設計，改進，鑒定及檢驗等(deng)環節(jie)。

         品(pin)(pin)(pin)質(zhi)決(jue)(jue)定(ding)(ding)生活，品(pin)(pin)(pin)質(zhi)決(jue)(jue)定(ding)(ding)未(wei)來，在這樣(yang)一個現代化的(de)都市，如果沒有好(hao)質(zhi)量的(de)產(chan)品(pin)(pin)(pin)是很難取得(de)發展的(de)，好(hao)品(pin)(pin)(pin)質(zhi)決(jue)(jue)定(ding)(ding)了一切。尤(you)其是高(gao)低溫試驗箱質(zhi)量方面和產(chan)品(pin)(pin)(pin)檢測上。

1、溫度波動度

這(zhe)個(ge)指(zhi)標(biao)也有叫溫度穩定度，控(kong)制溫度穩定后，在(zai)給(gei)定任意時(shi)間(jian)間(jian)隔內，工(gong)作(zuo)空(kong)間(jian)內任一(yi)(yi)點的(de)(de)高和(he)低溫度之差。這(zhe)里有個(ge)小小的(de)(de)區別(bie)“工(gong)作(zuo)空(kong)間(jian)”并不是“工(gong)作(zuo)室”，是大約去掉離(li)箱(xiang)壁各自邊(bian)長的(de)(de)1/10的(de)(de)一(yi)(yi)個(ge)空(kong)間(jian)。這(zhe)個(ge)指(zhi)標(biao)考核產品的(de)(de)控(kong)制技術。

2、

指(zhi)產品工(gong)作室能(neng)(neng)耐受和(或)能(neng)(neng)達到的極(ji)限(xian)溫(wen)度(du)。通常含(han)有能(neng)(neng)控(kong)制恒定(ding)的概念，應(ying)該是(shi)可以相對長時間穩(wen)定(ding)運行(xing)的極(ji)值。一般溫(wen)度(du)范圍包括極(ji)限(xian)高溫(wen)和極(ji)限(xian)低(di)溫(wen)。

一般標準要求(qiu)指標為≤1℃或±0.5℃。

3、溫度均勻度

舊標準(zhun)稱均(jun)勻度(du)(du)，新(xin)標準(zhun)稱梯度(du)(du)。溫度(du)(du)穩定后，在任意時(shi)間(jian)間(jian)隔內，工作(zuo)空間(jian)內任意兩點(dian)的(de)溫度(du)(du)平均(jun)值之(zhi)差的(de)大值。這個指標比下面的(de)溫度(du)(du)偏差指標更(geng)可以(yi)考(kao)核產(chan)品的(de)核心(xin)技術，因此(ci)好多公司的(de)樣本及方案刻(ke)意隱藏此(ci)項。

一(yi)般標準要求(qiu)指(zhi)標為(wei)≤2℃

4、溫(wen)度偏(pian)差

溫度穩(wen)定后，在任意時間(jian)(jian)間(jian)(jian)隔(ge)內，工(gong)作空間(jian)(jian)中心(xin)溫度的(de)平(ping)均值(zhi)和工(gong)作空間(jian)(jian)內其(qi)它點(dian)的(de)溫度平(ping)均值(zhi)之差。雖然新舊標(biao)準(zhun)對(dui)此指(zhi)標(biao)的(de)定義和稱呼(hu)相同，但檢(jian)測(ce)已有所改變，新標(biao)準(zhun)更實際，更苛刻(ke)一點(dian)，但考核(he)時間(jian)(jian)短(duan)點(dian)。

一般(ban)標準(zhun)要(yao)求指標為±2℃，純(chun)高溫試驗箱150℃以上可按實際使用(yong)溫度攝(she)氏度(℃)±2%要(yao)求。