高溫老化試驗箱有哪些作用?

    的(de)(de)測試可以使(shi)元(yuan)器件(jian)的(de)(de)缺(que)陷、焊接和裝配等生產(chan)(chan)過程中存(cun)在的(de)(de)隱(yin)患提前暴露，老化后再進行電氣參數(shu)測量，篩選(xuan)剔(ti)除失效(xiao)或變(bian)值(zhi)的(de)(de)元(yuan)器件(jian)，盡可能把產(chan)(chan)品的(de)(de)早(zao)期失效(xiao)消(xiao)滅在正常使(shi)用(yong)之用(yong)，從面保證出廠的(de)(de)產(chan)(chan)品能經得(de)起時間的(de)(de)考(kao)驗。

　　高溫老(lao)化試驗箱的出現都有(you)哪些作用?

　　隨著電(dian)(dian)子(zi)技術的發展，電(dian)(dian)子(zi)產(chan)品(pin)的集(ji)成(cheng)化程(cheng)度越(yue)來越(yue)高，結(jie)構越(yue)來越(yue)細微，工序越(yue)來越(yue)多(duo)，制(zhi)造(zao)工藝越(yue)來越(yue)復雜，這樣在制(zhi)造(zao)過程(cheng)中會產(chan)生一些潛伏(fu)缺陷(xian)。電(dian)(dian)子(zi)產(chan)品(pin)在生產(chan)制(zhi)造(zao)時,因(yin)設(she)計(ji)不合(he)理(li)、原材(cai)料或工藝措(cuo)施方面的原因(yin)引起產(chan)品(pin)的質量問題概括有兩類(lei)：

　　一類是產(chan)品(pin)的性能參(can)數(shu)不(bu)達(da)標，生產(chan)的產(chan)品(pin)不(bu)符合使用要求；

　　二(er)類是(shi)潛在(zai)的(de)(de)缺陷，這(zhe)類缺陷不能(neng)用(yong)一般的(de)(de)測試手段發現(xian)，而(er)需要在(zai)使用(yong)過程中逐漸地被(bei)暴露，如硅(gui)片(pian)表面污染、組織不穩定、焊接空(kong)洞、芯片(pian)和管殼熱(re)阻匹配不良等(deng)等(deng)。

　　一般這種缺(que)陷需(xu)要在元器件(jian)工作(zuo)于額定(ding)(ding)功率和(he)正常工作(zuo)溫(wen)度下運行一千個(ge)小(xiao)時左右才(cai)能全部被激活(huo)(暴露(lu))。顯然(ran)，對(dui)每只元器件(jian)測(ce)試一千個(ge)小(xiao)時是不現(xian)實的(de)(de)(de)，所以需(xu)要對(dui)其施加熱(re)應(ying)(ying)力和(he)偏壓，例如高(gao)溫(wen)老化(hua)試驗(yan)(yan)箱進行高(gao)溫(wen)功率應(ying)(ying)力試驗(yan)(yan)，來加速這類(lei)缺(que)陷的(de)(de)(de)提早暴露(lu)。也就是給電(dian)子產品(pin)施加熱(re)的(de)(de)(de)、電(dian)的(de)(de)(de)、機械的(de)(de)(de)或多種綜合的(de)(de)(de)外部應(ying)(ying)力，高(gao)低(di)溫(wen)老化(hua)試驗(yan)(yan)箱模擬嚴(yan)酷(ku)工作(zuo)環(huan)境(jing)，消(xiao)除加工應(ying)(ying)力和(he)殘余溶(rong)劑等物質，使潛伏故障提前出現(xian)，盡快使產品(pin)通過失效浴盆特性初(chu)期階(jie)段，進入高(gao)可靠的(de)(de)(de)穩定(ding)(ding)期。